TestMesh是N-PLUS-T為非揮發性記憶體NVM，例如 ReRAM、MRAM、PCM、FeRAM開發跟驗證的特性分析與測試平台，從wafer到package不同階段的記憶體都可以透過這個平台進行測試，提供你電氣特性、壽命、穩定性與衰老等全面性驗證。

         搭配獨家的演算法技術搭配訊號產生器來控制電壓波形，讓記憶體連續地寫入與讀出，還能動態調整阻抗，再加上快速的電流偵測電路，它能在微秒級切換電流量測範圍，以十幾奈秒等級的取樣率，讓工程師可以非常精細地量出電流波形，也就是說你可以知道寫入時、讀取時、抹除時到底用了多少電流。介面方面，它有圖形化GUI，也支援Python或C++編輯自己的測試腳本，不受限制，超適合做深入研究。也能搭配 N-PLUS-T 自家的分析軟體BarnieMAT，用來分析陣列資料、波形、故障機制等。

        TestMesh非常適合應用在進行快速循環測試、特性量測(像 IV 曲線)、各種讀/寫/干擾操作、破壞測試(disturb)，還能做可靠性評估、設計驗證、fail分析、製程工程驗證等。TestMesh的測試速度比某些傳統高階ATE快40倍，並且能幫工程師提升3倍以上的生產力，是記憶體開發團隊的利器，讓你可以非常快又非常深入地測試每一顆NVM的性能、耐久度與行為，是要做記憶體設計、可靠性研究、大量工程測試時不可或缺的工具。