Introspect的SV7C系列，如同一個高度精密的DRAM參數解析平台，能夠完整的測試出DRAM的產品特性以及極限，讓你可以精確地找出它在什麼條件下開始出錯，以及效能最好。測試的內容包含時序以及電壓兩個大的面向，我們會精確地掃描並調整各種時序參數，並將眼圖繪製出來，透過這種掃描，我們能精確地知道在多快的速度下、在多寬的時間窗口內，DRAM才能正確地鎖定和讀寫數據。另一方面，我們也會對核心電壓(VDD/VCC)進行細微的變化，並觀察DRAM的功能性和時序是否受到影響。這有助於確定記憶體在實際系統供電波動時的穩定性。Introspect的解決方案之所以強大，在於它具備了高精度參數控制，讓你能夠以極高的精度，自動地調整並掃描時序和電壓，這對於DDR5/LPDDR6這種高速、參數敏感的介面至關重要。系統內建了自動化腳本，可以快速且系統地找出DRAM的操作極限，也就是在哪個時序或電壓點上，它會從正常工作狀態轉變為失敗。
